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光束誘導電流成像檢測系統(LBIC)

2019/08/15

  產品用途:通過不同激光波長在半導體中的吸收距離和微區光電轉換,可以表征

  光電子器件及太陽能電池微區的短路電流分布、表層缺陷、反射率等特性參數,

  并通過橫向掃描(Mapping)形成圖像,以反應各種參數的平面均勻性,尤其是

  晶界和位錯分布, 為光電子器件及太陽能電池的結構優化和工藝改進提供參考依

  據。設備可應用于太陽能電池研究,GaAs、InP、GaN 光電子器件的研究。該設

  備克服了大面積光照下I-V 測試與單點光譜測試的不對應性和不準確性,大大提

  高了光電子器件診斷精度。

  產品指標:

  (1) 樣品尺寸:Max 200×160 mm2,Min 1×1 mm2

  (2) 激光波長:532 和 980nm,也可根據材料的光吸收系數而自行選配

  (3) 激光光斑:50μm/100μm 可選

  (4) 測試電流范圍:1 μA–1 mA

  (5) 測試模式:LBIC,LBIV,內外量子效率,反射率,擴散長度,均為

  mapping成像

  (6) 掃描步長:0.05、0.1、0.2、0.5、1、2、4 mm(可根據實際需要自定

  義)

  (7) 掃描速度:15 points/s

  (8) 可進行單點或連續掃描(mapping)測試


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